网络研讨会邀请 | 基于可重构FPGA的并行IC测试验证解决方案

会议简介

会议时间：2025年11月25日 周二 下午15:00

会议形式：网络研讨会

随着集成电路复杂度的提升，设计验证与测试方案面临众多挑战。例如，测试方案需要更具灵活性以加速产品周期；测试点数量增加，自动化需要提高，但多品牌仪器的自动化控制却十分复杂；同时，测试系统的维护和校准耗时且成本高昂。

Moku凭借可重构测试技术，将15+种仪器功能集成于一台设备，实现信号生成、测试分析和控制调节，提升测试效率。支持0Hz至2GHz宽频段多通道同步测量，结合Python/LabVIEW自动化编程，显著提高精度和数据一致性，满足半导体器件与IC测试验证灵活、准确与高效的需求，尤其适用于电源芯片、RF芯片及硅光芯片等领域测试验证。

注册研讨会，了解Moku在IC芯片验证测试中的具体应用，学习业内领先的公司如何使用Moku降低成本、加速产品验证设计流程。

研讨会内容：

1.了解电源芯片、RF芯片及硅光芯片等复杂芯片的验证与测试方法

2.了解用户如何使用Moku并行测试方案降低成本、加速产品测试验证流程

3.了解如何通过可重构的测试平台优化自动化测试流程，解决跨设备间系统同步交互的挑战

01｜会议大纲

 

一、大规模复杂IC芯片测试验证面临的挑战

 

二、Moku在电源芯片/RF芯片/硅光芯片等IC测试的应用

 

三、Moku并行一体化测试方案在IC芯片测试验证的优势

 

四、仪器演示与客户案例

 

会议适合人群:

 

诚邀集成电路、分立器件、光电子器件和传感器设计验证的研发领域及半导体研究院所和高校实验室用户参会

 

02｜ 主讲人

 

龙贺阳(Hank) Liquid Instruments应用工程师，毕业于英国利物浦大学、美国加州大学圣地亚哥分校，专业擅长模拟和数字信号处理，以及Moku在光电方向的应用。

 

03｜参会方式

 

1.复制下方链接到浏览器：

 

https://act.dianyuan.com/live/G589/838?code=071IqXFa1zg1BK0D6mFa15cHhC4IqXFA

 

2.扫描下方二维码预约会议

 

 

03｜产品速递

 

Moku:Delta 为量子控制而打造

在量子实验的应用中，Moku:Delta 最大限度满足量子实验定制化需求， 主要技术优势有：

 

高分辨率高带宽：20/14位ADC, 2GHz 任意波形发生器和示波器

 

高度适配多通道系统：8个输入 / 8个输出及32个 DIO 通道

 

满足高稳定度与同步性测量需求：同时集成1ppb OCXO, VCXO和GNSS模块

 

精确测量时间和控制激光脉冲：亚皮秒级时间分辨率，无死时间的TFA

 

微弱信号测量：超低底噪锁相放大器，<10 nV/√Hz

 

多仪器协同：15种仪器功能和高达8个仪器功能同时并行能力，可配置超过二十亿种自定义测试测量方案