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公司简介
Sol™ 1.7 900 - 1700nm 近红外TE制冷 InGaAs 阵列光谱
产品详情
产品介绍
产品特性:
-
光谱范围 900nm-1100nm
-
分辨率最高至0.35nm
-
内置16位模数转换
-
制冷可达-20℃
-
两种增益模式满足特殊应用需求
-
可选配256或1024像元
应用:
- 过程监测
- 近红外光谱分析
- 质量控制
- 在线分析
- 材料鉴定
产品附件:
- 光源
- 光纤
- 光纤探头
- 光纤采样支架
TE半导体制冷:
采用内置的TE制冷器对阵列探测器进行制冷是降低暗噪声的有效手段,在增加探测器的动态范围同时提高了其检测限。
当InGaAs探测器从室温25℃被降低到-10℃时,其暗电流将降低约12.25倍,其暗电流噪声将降低约3.5倍。这使得光谱仪可以进行长积分时间检测以及弱光检测。
软件:
BWSpec®光谱数据采集软件可执行复杂的测量和计算。它允许用户在多种数据格式之间进行选择,并可以设置扫描参数,如积分时间。除了强大的数据采集和数据处理功能外,还包括自动去除暗电流、光谱平滑和手动/自动基线校正等功能。并可额外提供带演示代码的SDK。
可选狭缝:
狭缝 |
尺寸 |
光谱分辨率 900-1700 nm |
25μm |
25μm x 1mm |
~4.0nm |
50μm |
50μm x 1mm |
~5.0nm |
100μm |
100μm x 1mm |
~8.4nm |
客户定制可选 |
衍射光栅:
建议响应波段(nm) |
光栅 |
光谱分辨率 25μm狭缝 |
1500 - 1600 |
1000 / 1310 |
0.35nm |
1260 - 1355 |
1000 / 1310 |
0.4nm |
1450 - 1650 |
600 / 1200 |
0.8nm |
1200 - 1400 |
600 / 1200 |
0.7nm |
900 - 1300 |
300 / 1200 |
1.5nm |
1200 - 1600 |
300 / 1200 |
1.5nm |
900 - 1700 |
150 / 1250 |
4.0nm |
客户定制可选 |
技术参数
型号 |
BTC261P |
直流输入 | 5V DC, 3.5A |
交流输入 | 100 - 240 VAC 50/60 Hz, 0.5A @ 120VAC |
探测器类型 | 线性阵列InGaAs探测器 |
探测器像元 | 512 x1 像元阵列 @ 像元尺寸25μm x 500μm |
光路f/# | 3.5 |
光路类型 | 交叉式 Czerny-Turner |
动态范围 |
高动态范围模式:100,000:1 高灵敏度模式: 6,250:1 |
数字分辨率 | 16-bit 或 65,535:1 |
读出速度 | 500 kHz |
数据传输速度 | >200谱/秒(USB 2.0) |
积分时间 | Min:200μs,Max:~64s |
Aux接口 | 外部触发控制,数字 I/O 口 |
工作温度 | 0 - 35°C |
TE 制冷 | -5°C @ 相对湿度= 90% (-20°C 可选) |
重量 | 1.4 kg |
尺寸 | 197mm x 109mm x 68mm |
数据接口 | USB 2.0 / 1.1 |
操作系统 | Windows: 7, 8, 10, 11 |
邮箱:info@aphoton-oe.com 电话:400-1148-321 位置:北京市北京市海淀区中关村南大街2号1号楼12层A座1511