Glacier® X 是一款高性能TE制冷线阵CCD光谱仪，探测器具有2048个像元，光谱仪内置16位模数转换，高速USB2.0数据接口，是长时间检测应用的理想选择。与非制冷CCD光谱仪相比Glacier® X 可提供更高的动态范围，更低的光谱仪噪声，更优异的长期稳定性，所以非常适合弱光检测和长时间连续监测等应用。 Glacier® X 系列光谱仪的最低检测波长可至200nm，最高可至1050nm。根据不同的配置，光谱分辨率0.2—4.5nm可选。灵活的配置及完备的应用支持，使其成为OEM应用的理想选择。 该光谱仪是整体解决方案的重要组成部分。可为OEM应用提供系统开发和应用支持。
Glacier® X 紧凑型、高性能、TE 致冷 CCD 光谱仪
产品介绍
产品特性：
- 紫外-近红外波段
- >0.2nm 光谱分辨率
- TE制冷/控温
- 16位数字转换
- 500 kHz 读出速度
- 即插即用USB 2.0数据传输
- 提供OEM版本
应用：
- 紫外/可见/近红外波段：光谱分析/光谱辐
- 射测量/分光光度测定
- 长积分检测
- 吸光度测量
- 反射率测量
- OEM光学仪器组件
产品附件：
- 光源
- 光纤
- 光纤探头
- 比色皿支架
- 直通式滤光片支架
软件：
BWSpec®光谱数据采集软件可执行复杂的测量和计算。它允许用户在多种数据格式之间进行选择，并可以设置扫描参数，如积分时间。除了强大的数据采集和数据处理功能外，还包括自动去除暗电流、光谱平滑和手动/自动基线校正等功能。并可额外提供带演示代码的SDK。
TE半导体致冷：
采用内置的TE制冷器对阵列探测器进行制冷是降低暗噪声的有效手段，在增加探测器的动态范围同时提高了其检测限。
当CCD探测器从室温25℃降低到14℃时，其暗电流降低约4倍，其暗电流噪声将降低约2倍。这使得光谱仪可以进行长积分时间检测以及弱光检测。
技术参数
