McPherson VUVAS——真空紫外分光光度计（透射反射吸收系统）

VUVaS2000真空紫外分光光度计是美国McPherson公司推出的世界领先的检测不同种类的材料在真空紫外波段(120一380nm)的透射谱、反射谱和吸收谱的检测仪器。由于它采用了真空斩波和锁相放大技术，大大提高了信号检测的灵敏度和信噪比，是目前在这个波段开展上述弱信号测量的国际最领先的仪器产品。

深真空紫外测量从未如此出色或简单

紫外激光器、光学器件、晶体材料和共振拉曼仪器的开发和制造以及基础研究需要一种广泛有用的仪器进行分析、表征和测试。而McPherson 的真空紫外分析分光光度计 （VUVAS 2000）是从清洁、无颗粒和密封的吹扫或真空外壳，到紫外线增强光学器件、光源、检测器和计算机优化的光学系统。

所有 VUVAS 2000 元件均可改善分析结果并简化用户的测量任务。

VUVAS 2000 适用于气体或液体样品池

大多数用户使用类似光学的基板进行透射测量

三位样品架是标准配置

低温单样品安装件和用于大样品的光栅映射附件可作为特殊产品提供

VUVAS 还允许用户测量反射率并轻松改变与样品表面的入射角，探测器也可进行调节，它可以保持 theta/2-theta 几何形状以进行镜面反射测量，也可以偏离此几何形状来测量散射或色散样品。

VUVAS 设计提供绝对测量值：单个探测器收集参考数据以及最终的透射或反射率测量。这种方法使用户能够随时验证仪器性能，而无需额外的附件。
VUVAS 2000 是一个完整的解决方案，一键式真空（吹扫）控制和软件使用户能够更轻松、更可靠地进行高质量的深层和真空紫外测量。它与许多实验室中的高性能 UV/Vis 仪器相辅相成，并为深真空紫外区域提供稳定的性能。